-
TBPS01-TBWA2/20dB近場探頭30K-6GTBPS01-TBWA2/20dB近場探頭30K-6G TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發(fā)射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。
查看詳細介紹 -
TBPS01近場探頭30K-6G
TBPS01近場探頭30K-6G TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發(fā)射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。
查看詳細介紹 -
GTEM開放式橫電波小室TBTC3 100K-6GGTEM開放式橫電波小室TBTC3 100K-6G EMC電磁兼容輻射騷擾測試或抗擾度測試通常在電磁屏蔽室中進行，使用天線接收輻射信號。由于帶寬限制，需要多個天線才能覆蓋整個頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場地，并且用于標準一致性測試的設(shè)備成本很高
查看詳細介紹 -
TEM開放式橫電波小室TBTC2 100K-6GTEM開放式橫電波小室TBTC2 100K-6G EMC電磁兼容輻射騷擾測試或抗擾度測試通常在電磁屏蔽室中進行，使用天線接收輻射信號。由于帶寬限制，需要多個天線才能覆蓋整個頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場地，并且用于標準一致性測試的設(shè)備成本很高。
查看詳細介紹 -
TEM橫電波小室TBTC1 100K-6G
TEM橫電波小室TBTC1 100K-6G EMC電磁兼容輻射騷擾測試或抗擾度測試通常在電磁屏蔽室中進行，使用天線接收輻射信號。由于帶寬限制，需要多個天線才能覆蓋整個頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場地，并且用于標準一致性測試的設(shè)備成本很高。
查看詳細介紹 -
TEM橫電波小室TBTC0 100K-6GTEM橫電波小室TBTC0 100K-6G EMC電磁兼容輻射騷擾測試或抗擾度測試通常在電磁屏蔽室中進行，使用天線接收輻射信號。由于帶寬限制，需要多個天線才能覆蓋整個頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場地，并且用于標準一致性測試的設(shè)備成本很高。
查看詳細介紹 -
TBL5032-3三相人工電源網(wǎng)絡32ATBL5032-3三相人工電源網(wǎng)絡32A是一種線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡，用于根據(jù) CISPR 16-1-2 標準測量 9 kHz 至 30MHz 范圍內(nèi)的線路傳導干擾。該設(shè)備設(shè)計用于測試電源電壓高達 450V/260V 和 32A 的三相和單相交流供電設(shè)備。
查看詳細介紹 -
TBL5016-3三相人工電源網(wǎng)絡TBL5016-3三相人工電源網(wǎng)絡（線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡LISN）9K-30M是一種線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡，用于根據(jù) CISPR 16-1-2 標準測量 9 kHz 至 30MHz 范圍內(nèi)的線路傳導干擾。
查看詳細介紹
深圳市國測電子有限公司版權(quán)所有 | 粵ICP備14037208號
GoogleSitemap
